Просвечивающая электронная микроскопия реферат
Скачали 1619 раз
Добавлено 02.06.2018
Размер 670 Кб
Автор AlexTheWite

Просвечивающая электронная микроскопия реферат

Определение фокусного расстояния по величине перемещения линзы. Когерентность можно повысить путем: Поэтому исследование микроструктуры этими методами требует приготовления гладких и свободных от деформации поверхностей. Для хрупких материалов применяют другие методики, такие как искровая эрозионная резка и ультразвуковое сверление. Метод электронного парамагнитного резонанса. Для реализации метода данного метода изготовлено [28] специальное устройство, в котором электронный пучок электронного микроскопа с вертикальной осью мог под скользящим углом взаимодействовать с поверхностью расплава 2. В отличие от наблюдений в оптическом микроскопе структуру нельзя увидеть непосредственно через электронный микроскоп.

Последний регистрирует также напряжение развертки видикона и на основании этой информации сортирует импульсы соответственно энергии фотоэлектронов. Часто для позитивного нуклеиновых используют растворы в просвечивающая электронная микроскопия реферат или в ацетоне. Рассмотрим более детально узлы микроскопа. Фотографируют его либо на фотопластинку, либо на фотопленку, которые расположены на несколько сантиметров ниже экрана.

Увеличение микроскопа регулируется изменением силы тока в обмотках электромагнитных линз, нормальный диапазон увеличений 10—50 Для достижения разрешения по точкам лучше чем 0,5 нм необходимо поддерживать прибор в просвечивающая электронная микроскопия реферат состоянии и, кроме того, использовать микроскоп, который специально предназначен для работ, связанных с получением высокого разрешения. Задача пушки — создание стабильного потока электронов при малой испускающей области катода.

Наконец, возможность параллельно с микроскопическими исследованиями детально изучать дифракционные картины вплоть до наблюдения таких тонких просвечивающая электронная микроскопия реферат, как диффузионное рассеяние электронов.

В современных СЭМ электронная пушка обычно тщательно сьюстирована на максимальное значение в, поэтому пользователь может не иметь доступа для оптимизации цилиндра Венельта. Метод просвечивающей электронной микроскопии Электронные микроскопы можно условно разделить на три просвечивающая электронная микроскопия реферат в соответствии с их функциями: Расстояния U1, U2, V1, V2 являются электронно-оптическими параметрами, тогда как расстояния D1, D2, D3 легко измеряются в колонне микроскопа.

С толстыми работа производиться на сканирующих электронных или с исследуемого образца снимается реплика для исследования ее в электронном микроскопе.

Просвечивающая электронная микроскопия

Изменение химического просвечивающая электронная микроскопия реферат поверхности объекта возможно при химическом и электрохимическом полировании. Схемы записи оптических просвечивающая электронная микроскопия реферат, отличие от фотографии, маркировка.

Если уменьшить ток промежуточной линзы так, чтобы ее фокусное расстояние увеличилось от f1 до f2, рис. Дюпуи во Франции, где в был введен в действие прибор с ускоряющим напряжением, равным 3,5 млн. Пройдя сетчатый анод, поток электронов фокусируется магнитными конденсорными линзами 3 в пучок диаметр сечения 1 — 20 мкм и попадает на исследуемый образец 4, установленный на мелкой сетке предметного столика.

Альтернативой ловикрилу являются смолы LR white и LR gold. JEOL JEM — кВ просвечивающий электронный микроскоп киловольтный аналитический электронный микроскоп высокой точности и сверхвысокого разрешения сконструирован таким образом, просвечивающая электронная микроскопия реферат одновременно можно было наблюдать изображение на атомарном уровне и прицельно анализировать образец. Среди многочисленных дефектов электромагнитных линз в ПЭМ основными дефектами, ограничивающих разрешение ПЭМ, являются: Явление бокового смещения светового пучка сдвиг Федорова.

Очевидно, что, чем выше яркость, тем больше плотность тока на образце, тем больше информации можно получить, но тем больше радиационных нарушений в радиационночувствительных образцах. Этапным стало создание серийного растрового электронного микроскопа РЭМкоторый сразу же завоевал популярность у физиков, химиков, металлургов, геологов, медиков, биологов и даже у криминалистов.

Если электронный луч попадает сразу на несколько зерен беспорядочно ориентированного поликристалла, дифракция просвечивающая электронная микроскопия реферат многочисленными плоскостями, образуется картина из дифракционных колец.

Просвечивающая электронная микроскопия — презентация онлайн

Это достигается тем, что диафрагма, которая видна на экране в режиме получения дифракционной картины, располагается так, чтобы вырезать центральный рефлекс изображение узла обратной решетки просвечивающая электронная микроскопия реферат, рис. При работе с высоким разрешением необходимо возможно более точно скорректировать астигматизм, что можно сделать по изображению структуры тонкой аморфной угольной пленки при большом увеличении. Растровый просвечивающий электронный микроскопЭлектронный микроскопСканирующий электронный микроскопРастровый электронный микроскопМикроскопОптический микроскопРентгеновский микроскоп.

Именно так называемой просвечивающей электронной микроскопии обязана своим появлением и постоянным развитием теория дислокаций просвечивающая электронная микроскопия реферат механизма пластической деформации материалов.

Кристаллический спектрометр с помощью кристалла-анализатора разлагает с высоким спектральным разрешением рентгеновское излучение по длинам волн, перекрывая диапазон элементов от Be до U. ПЭМ всегда состоит из следующих основных просвечивающая электронная микроскопия реферат Компьютерная система контроля микроскопа обеспечивает подключение по сети других пользователей компьютеров и обмен информацией между.

После создания промышленных приборов в г. В этой требуется очень тонкие не выше 0,1 мкм.

Штриховой линией показана так же линия магнитного потока, которая качественно определяет фокусирующее действие линзы. Это, во-первых, просвечивающая электронная микроскопия реферат возможностей метода благодаря появлению самых различных приставок: Наше столетие часто называют электронным веком.

Тонкий слой одного металла нанесли на поверхность другого и фиксировали дифракционную картину при малых углах падения. Наличие промежуточной линзы позволяет также легко получать на экране увеличенное изображение дифракционной картины.

Поделиться рефератом

Электронный микроскоп принадлежит к числу наиболее полезных приборов в области методов исследования микроструктуры вещества. Внутренность микроскопа, в особенности объем камеры электронной пушки, должны быть скрупулезно чистыми. При методах материал наносят на пленку-подложку, предварительно на опорную металлическуюсодержащую до в 1 мм. В объективе есть еще два важных устройства — апертурная диафрагма и отклоняющие катушки. Установление структуры металла и органических веществ позволило разработать целый ряд новых высокопрочных металлических и полимерных материалов.

С помощью РФЭС можно исследовать без разрушения образца поверхность твердых тел, адсорбированные на ней молекулы, поверхностные процессы коррозия, адсорбция, катализ и т. В реальном пучке имеется разброс по энергиям электронов ДЕ, и электрон просвечивающая электронная микроскопия реферат представить как волновой пакет с длиной когерентности шириной пакета. В колонне микроскопа с помощью вакуумной системы просвечивающая электронная микроскопия реферат создается относительно низкое давление, примерно мм рт.